한·중 특허청, 특허 공동심사 사업 업무협약

[지난 17일 중국 항저우에서 성윤모 특허청장(왼쪽)과 션창위 중국 국가지식산권국장(오른쪽)이 양국에 출원된 동일한 발명을 한·중 심사관이 함께 심사하는 ‘특허 공동심사(CSP) 사업’에 관한 양해각서(MOU)를 체결하고 기념사진을 찍고 있다. 사진=특허청 제공]

특허청은 17일 중국 국가지식산권국과 한·중 심사관이 함께 심사하는 ‘특허 공동심사(CSP) 사업’에 관한 양해각서(MOU)를 체결했다고 19일 밝혔다.

특허청에 따르면 성윤모 특허청장은 중국의 션창위(申長雨) 국가지식산권국장과 이날 중국 항저우에서 청장회담을 갖고, 특허, 디자인 분야에서 양국의 협력성과가 국제적인 성공 사례로 이어질 수 있도록 합의했다.

양국 특허청은 디자인 우선권 서류의 전자적 교환을 조속히 추진하는 방안에도 합의했다. 한국 출원인이 중국에 디자인을 출원할 때나 그 반대의 경우 제출해야 하는 우선권 서류를 전자적으로 교환하는 것이다. 

아울러 중국이 추진 중인 디자인 심사역량 강화, 디자인 분류체계 개발 등에 한국이 협조하기로 하는 등 디자인 분야에서도 협력하기로 했다.

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성윤모 특허청장은 “중국은 세계 최대 시장이자 지재권 최다 출원 국가"라며 "이번 회담에서 합의된 지재권 획득 절차 간소화 조치 등은 중국 진출 우리 국민과 기업에 적지 않은 편익을 가져다 줄 것”이라고 말했다.