우리나라에서 개발된 나노측정기술이 국제표준으로 공표된 것은 이번이 처음이다.
나노측정 원천기술의 국제표준 선취권을 확보함에 따라 우리나라가 세계 나노기술 기반 확립을 주도하는 계기를 마련하게 됐다.
연구원은 이 박사팀의 국제표준으로 채택된‘띠굽힘 시험법’기술이 길이가 길고 두께가 얇은 마이크로 및 나노 구조물을 변형시키며 하중 등을 간편하고 정확하게 측정하는 방법으로 측정의 자동화는 물론 관련 제품들의 신뢰성 향상에 크게 기여할 수 있을 것이라고 밝혔다.
IEC 국제표준명은 ‘띠굽힘 시험법을 이용한 박막의 인장물성 측정(IEC 62047-8 Ed. 1.0)’으로 오는 4월 책자로 발간되며 IEC는 각국이 국가표준을 제정할 때 이에 준거토록 권고하게 된다.