4월 과학기술자상에 강성호 연세대 교수
2011-04-06 14:17
| 강성호 연세대 교수 |
강 교수는 메모리 반도체 안에 삽입하는 ‘자체 내장 수리연산회로’를 개발했고 이 회로를 추가한 반도체는 스스로 고장을 찾아내 불량 셀을 고칠 수 있다.
메모리 반도체는 수율을 높이기 위해 테스트를 거쳐 제조공정상 발생하는 불량 부분을 수리해 제품을 완성하는데, 이 회로를 사용하면 반도체 수리의 시간, 면적 등의 측면에서 효율성을 크게 높일 수 있다.
강 교수는 이같은 ‘테스트 용이화 설계’ 분야에서 국제적 연구를 지속적으로 수행하고 있으며, 이 분야에서 권위있는 여러 국제 학술지에 논문을 실은 바 있다.